Zur Person
Nach dem Abitur 1917 und einer bergmännisch-praktischen Ausbildung studierte Erich Emschermann von 1919 bis 1925 Bergbau an der Technischen Hochschule Aachen. Danach war er dort mehrere Semester als Assistent bei Paul Wilski (Ordinarius für Markscheidekunde) tätig.
Anschließend folgten praktische Tätigkeiten im übertägigen und untertägigen Vermessungsdienst.
1932 promovierte er mit einer Arbeit über „Theoretische Erörterungen zur zentrischen Schachtlotung mit mehreren Gewichten“ am Markscheide-Institut der Technischen Hochschule Aachen. 1935 legte Emschermann die Markscheiderprüfung vor dem Oberbergamt Dortmund ab und übernahm die Leitung vermessungstechnischer, mathematischer und physikalischer Kurse.
1936 wurde er planmäßiger wissenschaftlicher Assistent bei Oskar Niemczyk am Markscheide-Institut in der Fakultät IV für Bergbau und Hüttenwesen, Abteilung für Bergbau und Markscheidewesen, an der Technischen Hochschule Berlin. 1938 nahm er neben anderen Geologen, Geodäten und Geophysikern als Mitarbeiter Niemczyks an der deutschen Island-Expedition teil.
1941 habilitierte sich Erich Emschermann mit einer Schrift über „Messungsgenauigkeiten und Fehlergrenzen im Markscheidewesen“ an der Fakultät IV für Bergbau und Hüttenwesen in der Abteilung für Bergbau und Markscheidewesen an der Technischen Hochschule Berlin.
Vom 8. August 1941 bis zum 3. April 1945 wirkte Erich Emschermann als Dozent für Markscheidekunde, Lehrgebiet Angewandte Geophysik, in der Abteilung für Bergbau und Markscheidewesen an der Technischen Hochschule Berlin.
Kurz vor seiner Ernennung zum außerplanmäßigen Professor verunglückte er während einer Dienstreise am 3. April 1945 tödlich bei einem Flugzeugabsturz in der Gegend von Bernburg.
Wissenschaftliche Schwerpunkte
Erich Emschermann löste das vielfältige Problem der Lotschwingungen im Rahmen der Mehrgewichtslotung und war an der Entwicklung optischer Schachtlotverfahren sowie der optischen Präzisionslängenmessung unter Tage beteiligt.
Mittels exakter mathematischer Deduktionen suchte er neue Wege für die Ermittlung der Fehlergrenzen für markscheiderische Feinmessungen auf der Grundlage bestimmter Genauigkeitsanfordungen.